特許

J-GLOBAL ID：200903073251630731

X線強度測定装置

発明者： 三宅 明 ,  雨宮 光陽
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 阪本 善朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-319510
公開番号（公開出願番号）：特開平6-148336
出願日： 1992年11月04日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：

【要約】【目的】 X線強度測定装置の測定精度を損うことなく耐久性を向上させる。【構成】 X線強度測定装置であるX線強度センサE<SB>1</SB> は、筐体1に収容された半導体ダイオード2と、筐体1の開口1aに設けられた遮蔽板3からなり、図示しないX線は、遮蔽板3に設けられたピンホール33を通って半導体ダイオード2の受光面21に到達する。X線の波長λまたは発散角度θと、ピンホール33の幅dと、受光面21の幅aと、ピンホール33と受光面21の離間距離bの間に以下の関係が成立すれば、X線の回折ぼけまたは半影ぼけによって受光面21におけるX線強度が低減される。d<(λ×b)/d<aまたは、d<(θ×b)/<a

請求項（抜粋）：

少くとも1個の微小開口を有する遮蔽板と、前記微小開口を通過したX線を受光する受光面を有するX線強度検出手段とを備え、前記X線の波長λまたは発散角度θと、前記微小開口の幅dと、前記受光面の幅aと、前記微小開口と前記受光面の離間距離bの間に以下の関係が成立することを特徴とするX線強度測定装置。d<(λ×b)/d<aまたは、d<(θ×b)<a

IPC (2件)：

G01T 7/00 ,  G01T 1/24

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭56-066815
  
• 特開平1-276051
  
• 特開平4-259885