特許

J-GLOBAL ID：200903073255664711

高輝度領域の属性検出方法

発明者： 戸 田 昌 孝 ,  菅 沼 孫 之 ,  久 野 耕 嗣
出願人/特許権者： アイシン精機株式会社
代理人 (1件)： 杉信 興
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-208102
公開番号（公開出願番号）：特開平6-058725
出願日： 1992年08月04日
公開日（公表日）： 1994年03月04日
要約：

【要約】【目的】 スリット光を照射した物体像の撮影において、画面上の高輝度領域がスリット光像を正しく示すものか、ハイスポットによる輝度飽和したものか、残像であるスミアであるか等、高輝度領域の属性を検出する。物体形状を、高信頼性,高精度で測定する。【構成】 高輝度領域の輝度分布が、正確なスリット光像,ブル-ミング,スミア等でそれぞれ独得な特性を示すことに着目して、ファジ-処理により、これらを検出する。正確なスリット光像と検出したラインでは、ピ-ク領域の両エッジの中心位置を、カメラの解像度より高い解像度で算出する。スミアと検出した領域は無視し、ブル-ミングと検出したラインでは、照明強度を下げて再度撮影した画像に基づき、それが正確なスリット光像となっていると、ピ-ク領域の両エッジの中心位置を、カメラの解像度より高い解像度で算出する。

請求項（抜粋）：

次のステップからなる、スリット光を当てた物体を撮影した、2次元x,yに分布する各画素の輝度を表わす画像デ-タで表わされる画像上の、高輝度領域の属性検出方法:A.走査線上における輝度ピ-クを検出する,B1.検出した輝度ピ-クによって定まる、輝度ピ-クの基底レベルに近い第1閾値以上の第1ピ-ク領域幅を検出する,D1.第1ピ-ク領域幅を小,中,大等各指標の値に変換する、および、E1.得た各指標値を各指標に対応付けられている、「スリット形状」反射である程度が低,高等各指標の値に変換し、これらの値の集合の中心値すなわち「スリット形状」反射である確信度を算出する。