欠陥検出方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴木誠 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-211225
公開番号（公開出願番号）：特開平8-065502
出願日： 1995年07月27日
公開日（公表日）： 1996年03月08日
要約：

【要約】【課題】スキャナの欠陥によるデジタル画像中の欠陥画素位置を自動的に検出する。【解決手段】仮欠陥位置のリストがバッファ40に保存される。コントローラ34は、文書がスキャンされる都度、リストにエントリーを追加し、同じ位置に同色の画素を持つ文書が続く時に当該仮欠陥位置のカウントを増加させ、当該位置の画素の色が変化すると該カウントを減らすか0にする。カウントが閾値を超えたときに、その仮欠陥を実欠陥42として出力する。メモリの大きさの制約があるときには、欠陥リストのエントリー数はある最大サイズまでに制限され、仮欠陥位置はエントリーを使用可能なときだけリストに追加される。

請求項（抜粋）：

それぞれ1つの画素色値を持つ複数の画素位置からなるデジタル画像を文書の画像より生成するために用いられるデジタル化手段の欠陥に起因するところの、該デジタル画像中の欠陥位置の集合を自動的に識別する欠陥検出方法であって、多数の文書をスキャンして複数のデジタル画像を生成するステップ、該複数のデジタル画像中の各デジタル画像の各画素位置に画素色値を割り当てるステップ、注目される領域内の各画素位置について、該各画素位置がある共通の色値の画素を含んでいる文書のカウントを累積するステップ、及びカウントがある閾値を超えた画素位置を該位置の集合に加えるステップ、を有することを特徴とする欠陥検出方法。

IPC (4件)：

H04N 1/40 , G06T 1/00 , G06T 7/00 , G06T 7/20

FI (4件)：

H04N 1/40 G , G06F 15/64 400 E , G06F 15/70 310 , G06F 15/70 400

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平3-236072
特開平4-197752
特開平3-236072

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