特許

J-GLOBAL ID：200903073325307067

光走査装置

発明者： 井上 望
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-262681
公開番号（公開出願番号）：特開平7-113974
出願日： 1993年10月20日
公開日（公表日）： 1995年05月02日
要約：

【要約】【目的】光走査装置を記録装置、読み取り装置などの機器に取り付ける際に、取付部の寸法誤差や、取付部の部材の温度変動に線膨張率の差による光走査装置の光学ベースの歪みの発生を押え、常に安定した走査性能を得ることを目的とする。【構成】光走査装置の光学ベース91を機器側に取り付けるための取付部に低剛性部94を設ける。これにより、メインシャーシ101等の機器側の部材との寸法差を吸収することができる。

請求項（抜粋）：

光源と、前記光源から射出される光束を偏向する偏向器と、前記偏向器によって偏向された光束を、被走査面上に所定形状のスポットに結像させる結像光学系と、前記光源、前記偏向器、前記結像光学系のうちの1つ以上が取り付けられる光学ベースとを有する光走査装置において、前記光学ベースを機器に取り付けるための取付部の剛性を、前記取付部以外の部分に比べて低くしたことを特徴とする光走査装置。

IPC (2件)：

G02B 26/10 ,  G02B 7/00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-182708
  
• レーザー光学装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-261260   出願人：コニカ株式会社