特許

J-GLOBAL ID：200903073355698397

光学式伸び計用標線マーク

発明者： 亀川 正之
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-253262
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094719
出願日： 1997年09月18日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：

【要約】【課題】 計算速度の速い1次式を用いた補間計算によって、常に高精度の標線位置の特定が可能で、もって高速で高精度の伸びを計測することのできる光学式伸び計用標線マークを提供する。【解決手段】 光の反射率が他部と相違する領域の境界形状を、当該マーク1を試験片に付した状態での試験片の変形方向(x方向)に直交する方向(y方向)に積分したときに、x方向に底辺を持つ二等辺三角形となるような形状とすることで、マークのエッジの近似式を得るためのデータ点数を増大させ、誤差のない近似を可能とする。

請求項（抜粋）：

カメラにより試験片を撮像することによって得られる画像データから、試験片に設定された少なくとも2つの標線間の伸びを計測するに当たり、上記各標線位置に付されるマークであって、光の反射率が他部と相違する領域の境界形状が、当該マークを試験片に付した状態で試験片の変形方向に直交する方向にこの境界形状を積分したときに得られる関数が上記変形方向に底辺を持つ二等辺三角形となる形状であることを特徴とする光学式伸び計用標線マーク。