特許
J-GLOBAL ID:200903073387950144

ひび割れ検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  早川 康 ,  石川 滝治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-017404
公開番号(公開出願番号):特開2006-162583
出願日: 2005年01月25日
公開日(公表日): 2006年06月22日
要約:
【課題】 コンクリート表面の汚れや照明条件などによってひび割れの検出が困難な場合においても、簡易に高精度のひび割れ検出をおこなうことのできるひび割れ検出方法を提供すること。【解決手段】 対比される2つの濃度に対応したウェーブレット係数を算定するとともに、該2つの濃度をそれぞれ変化させた場合のそれぞれのウェーブレット係数を算定してウェーブレット係数テーブルを作成し、ひび割れ検出対象であるコンクリート表面を撮影した入力画像をウェーブレット変換することによってウェーブレット画像を作成する工程と、前記ウェーブレット係数テーブル内において、局所領域内の近傍画素の平均濃度と注目画素の濃度に対応するウェーブレット係数を閾値として、注目画素のウェーブレット係数と該閾値とを比較することによりひび割れ領域とひび割れでない領域を判定する工程とからなるひび割れ検出方法である。【選択図】 図7
請求項(抜粋):
コンクリート表面に生じているひび割れの検出をおこなうひび割れ検出方法であって、 対比される2つの濃度に対応したウェーブレット係数を算定するとともに、該2つの濃度をそれぞれ変化させた場合のそれぞれのウェーブレット係数を算定してウェーブレット係数テーブルを作成し、ひび割れ検出対象であるコンクリート表面の撮影画像をコンピュータに入力して入力画像とし、該入力画像をウェーブレット変換することによってウェーブレット画像を作成する第一工程と、ウェーブレット係数テーブル内において局所領域内の近傍画素の平均濃度と注目画素の濃度に対応するウェーブレット係数を閾値とし、注目画素のウェーブレット係数が閾値よりも大きな場合は該注目画素をひび割れと判定し、注目画素のウェーブレット係数が閾値よりも小さな場合は該注目画素をひび割れでないと判定し、局所領域および注目画素を変化させながら注目画素のウェーブレット係数と閾値との比較をおこなうことによってひび割れ抽出画像を作成する第二工程と、からなることを特徴とするひび割れ検出方法。
IPC (3件):
G01N 21/88 ,  G06T 1/00 ,  G06T 3/00
FI (4件):
G01N21/88 Z ,  G01N21/88 J ,  G06T1/00 300 ,  G06T3/00 300
Fターム (31件):
2G051AA90 ,  2G051AB03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EA25 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051EC06 ,  2G051ED05 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE02 ,  5B057CE05 ,  5B057CE08 ,  5B057CE11 ,  5B057CG02 ,  5B057CH08 ,  5B057CH11 ,  5B057CH18 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC17 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)
引用文献:
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