特許

J-GLOBAL ID：200903073465697655

合焦状態検出装置及び光学装置

発明者： 池照 直樹
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-302326
公開番号（公開出願番号）：特開平9-130661
出願日： 1995年10月27日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】 該装置の組み立て工数や部品点数を減らし、小型軽量化,コスト低減化を図ると共に、安定した光学性能を得る。【解決手段】 固体撮像素子25に、画像の1フレームを形成する各フィールドの前記結像光学系からの光路長を所定量だけ変える手段、つまり少なくとも一列おきに光電変換素子上に透明体層25aを形成し、該透明体層の作用により、あたかも光学系の一部あるいは固体撮像素子をウォブリングさせたと同様の効果を得るようにする事で、ウォブリングに必要となる鏡筒やステッピングモータ等の駆動手段を不要にすると共に、ウォブリングによる光学系,固体撮像素子面の平行偏心,倒れ偏心等を無くすようにしている。

請求項（抜粋）：

結像光学系によって形成される画像を取り込む為の、多数の光電変換素子から成る固体撮像素子と、該固体撮像素子によって得られた画像の高周波成分レベルを検出し、評価値を検出する評価値検出手段と、前記固体撮像素子の各フィールド同士の前記評価値の差分値を求める差分値検出手段とを有し、前記差分値に応じて合焦位置を検出する合焦状態検出装置において、前記固体撮像素子は、画像の1フレームを形成する各フィールドの前記結像光学系からの光路長を所定量だけ変える手段を有することを特徴とする合焦状態検出装置。

IPC (3件)：

H04N 5/232 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36

FI (3件)：

H04N 5/232 H ,  G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A