特許
J-GLOBAL ID：200903073526160935
蛍光X線強度と元素含有量の相関式を求める方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉本 修司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-265579
公開番号（公開出願番号）：特開平7-098287
出願日： 1993年09月28日
公開日（公表日）： 1995年04月11日
要約：
【要約】【目的】 希望する1つのデータ点O0 での誤差をなくし、それ以外のデータ点On での誤差を少なくできる蛍光X線強度と元素含有量との相関式を求める。【構成】 元素含有量が既知の複数の標準試料について蛍光X線の強度を測定し、指定された元素含有量と蛍光X線強度をもつ点O0 を通り、かつ、測定された標準試料のデータ点On の近似点を通る相関式(検量線)を、最小二乗法による回帰計算法によって求める。
請求項（抜粋）：
試料からの蛍光X線の強度を測定し、この強度から元素の含有量を求めるときに使用する上記強度と含有量の相関式を求める方法であって、元素の含有量が既知の複数の標準試料について蛍光X線の強度を測定し、指定された元素含有量と蛍光X線強度をもつ1つの点を通り、前記測定された標準試料のデータの近似点を通る相関式を求める蛍光X線分析における蛍光X線強度と元素含有量の相関式を求める方法。
引用特許：
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