特許
J-GLOBAL ID：200903073556105327
試料中のダイオキシン類の濃度を測定する方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
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公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-337337
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214231
出願日： 2001年11月02日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：
【要約】【課題】 電解発光を利用した新規な測定系で高感度分析をするものであり、化学発光に必要な過酸化水素などの試薬を必要とせず、装置が小型化でき、高感度化が容易であるダイオキシン類の濃度を測定する方法を提供する。【解決手段】 ダイオキシン類の構造の一部を模したハプテンを、ルテニウム錯体と化学結合させて抗原に形成するとともに、該抗原を電極上に固定した抗体とインキュベートして抗原抗体反応を行い、この反応生成物に前記電極から電圧を印加させることにより前記ルテニウム錯体を酸化・還元させて電解発光を生じさせ、該電解発光を観測することにより前記抗原を定量してダイオキシン類の濃度を測定する。
請求項（抜粋）：
試料中のダイオキシン類の濃度を測定する方法であって、ダイオキシン類の構造の一部を模したハプテンをルテニウム錯体と化学結合させて抗原に形成する工程、該抗原及びダイオキシン類を含有すると考えられる試料を、電極上に固定した該ダイオキシン類に対する抗体とインキュベートして抗原抗体反応を生じさせる工程、この反応生成物に前記電極から電圧を印加させることにより前記ルテニウム錯体を酸化・還元させて電解発光を生じさせる工程、及び該電解発光による発光量を測定して前記抗原を定量することで、前記試料中のダイオキシン類の量を求める工程、を備えたことを特徴とする試料中のダイオキシン類の濃度を測定する方法。
IPC (4件)：
G01N 33/53
, G01N 21/78
, G01N 33/00
, G01N 33/553
G01N 33/53 G
, G01N 21/78 C
, G01N 33/00 D
, G01N 33/553
2G054AB07
, 2G054CA10
, 2G054CB10
, 2G054CE02
, 2G054EA01
, 2G054JA06
