特許

J-GLOBAL ID：200903073557711344

磁気ディスクの検査方法

発明者： 芳山 龍一 ,  有田 陽二 ,  山内 隆
出願人/特許権者： 三菱化学株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 曉司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-253130
公開番号（公開出願番号）：特開平10-105901
出願日： 1996年09月25日
公開日（公表日）： 1998年04月24日
要約：

【要約】【課題】 高速で、微少な欠陥をも検知することができる磁気ディスクの検査方法を提供する。【解決手段】 磁気ディスクを一様に磁化又は消磁した後、磁気ヘッドを用いて該ヘッドの電流-出力特性における飽和出力値の10%以下の出力を与える電流値で信号の書き込み操作を行ない、次いで磁気ヘッドを用いて再生し、所定レベル以上の信号を検出した個所を欠陥部とすることを特徴とする磁気ディスクの検査方法。

請求項（抜粋）：

磁気ディスクを一様に磁化した後、磁気ヘッドを用いて該ヘッドの電流-出力特性における飽和出力値の10%以下の出力を与える電流値で信号の書き込み操作を行ない、次いで磁気ヘッドを用いて再生し、所定レベル以上の信号を検出した個所を欠陥部とすることを特徴とする磁気ディスクの検査方法。

IPC (5件)：

G11B 5/00 ,  G11B 5/84 ,  G11B 20/18 501 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18

FI (5件)：

G11B 5/00 D ,  G11B 5/84 C ,  G11B 20/18 501 C ,  G11B 20/18 572 B ,  G11B 20/18 572 F