特許
J-GLOBAL ID：200903073583152701
分光分析における多成分分析方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-125740
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296923
出願日： 1992年04月18日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：
【要約】【目的】 多成分を同時に精度よく、しかも、効率的に定量分析することができる分光分析における多成分分析方法を提供すること。【構成】 試料に対して光源から光を照射し、そのとき得られる吸収スペクトルに基づいて演算処理を行うことにより試料中に含まれる多成分の濃度を同時に定量分析する方法において、前記多成分を吸収ピークの形状および吸収領域に基づいて複数の成分群にグループ分けし、各成分群に最も適切な定量演算手法で定量する。
請求項（抜粋）：
試料に対して光源から光を照射し、そのとき得られる吸収スペクトルに基づいて演算処理を行うことにより試料中に含まれる多成分の濃度を同時に定量分析する方法において、前記多成分を吸収ピークの形状および吸収領域に基づいて複数の成分群にグループ分けし、各成分群に最も適切な定量演算手法を用いるようにしたことを特徴とする分光分析における多成分分析方法。
IPC (2件)：
前のページに戻る
