特許

J-GLOBAL ID：200903073627934516

プラント異常診断方法と装置

発明者： 佐々木 隆
出願人/特許権者： バブコック日立株式会社
代理人 (1件)： 松永 孝義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-245489
公開番号（公開出願番号）：特開2003-058233
出願日： 2001年08月13日
公開日（公表日）： 2003年02月28日
要約：

【要約】【課題】 信頼性の高い異常診断を行うに当たって、装置の診断基準を更新する処理に、過去の診断装置の診断基準値の自動更新を行う装置と方法を提供すること。【解決手段】 先ず診断基準値更新日かどうかの確認を行う。更新日でない場合は、本処理を終了し、更新する場合は、プラントデータ取込処理後、過去の診断基準値と現在値より多項式近似式を用い予測演算式を算出する。予測演算式より次回診断基準日の診断基準予測値を算出する。その後、現在の診断基準値と次回の診断基準値との差分を算出する。その差分が一定量を超えた場合に、次回の診断基準値の予測値に基づいて現在の診断基準値を更新し、本処理を終了する。また、一定量を超えない場合は、今回は現在診断基準値を更新せず次回更新時まで本設定にて診断を行う方法である。

請求項（抜粋）：

プラント設備のプロセス量とその診断基準値との偏差によりプラント設備の劣化状態を自動的に診断するプラント異常診断方法において、前記プロセス量の診断を行う際に、過去の診断基準値と現在値より多項式近似式を用いて予測演算式を算出し、該予測演算式により次回の診断基準値の予測値を算出後、過去に既に算出してある現在の診断基準値と次回の診断基準値との差分値が一定値を超えているかどうかの判断を行い、この判断結果より差分値が一定値を超えていない場合は本処理を終了し、前記差分値が一定値を超えている場合は前記現在の診断基準値を次回の診断基準値の予測値に基づいて更新する機能を有するプラント異常診断方法。

FI (2件)：

G05B 23/02 T ,  G05B 23/02 R

Fターム (6件)：

5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF01 ,  5H223FF06