特許
J-GLOBAL ID：200903073678957340
パターン認識装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-226236
公開番号（公開出願番号）：特開平7-085280
出願日： 1993年09月10日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：
【要約】【目的】 高速かつ高精度に被検像と参照像の同一性を判断するパターン認識装置を提供する。【構成】 被検像と参照像の画素単位の信号(夫々被検信号、参照信号とする)が像回転部101の記憶領域に入力される。このフレーム単位の参照信号は像回転部101により、回転変換され、像表示装置103に投影される。これらの像はレンズ105,106により2度フーリエ変換され、レンズ106の焦点面118に結像する。この像を光検出器115により検出し、検出した強度信号に基づいて被検像と参照像の角度を合わせ、位置信号に基づいて被検像と参照像の位置を合わせ、テンプレートマッチングを行うことにより2像の同一性を判断する。
請求項（抜粋）：
被検像と参照像との同一性を判断するパターン認識装置であって、前記参照像または前記被検像のいずれかを回転処理する像回転手段と、前記像回転手段で一方が回転処理された、前記被検像および前記参照像を同一平面上の相関演算の対象となる被演算像に変換して表示する像変換表示手段と、前記像表示手段に表示された前記被演算像を光学的に相関演算して相関像を得る光学系と、前記相関像を検出する光検出器と、前記光検出器で検出された前記相関像に基づいて、前記被検像と前記参照像との方向の一致および位置関係を判定し、テンプレートマッチングを行い、前記被検像と前記参照像との同一性を判断する演算処理手段と、を備えることを特徴とするパターン認識装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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