特許
J-GLOBAL ID:200903073712604584

ストレス度測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西岡 伸泰
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-292214
公開番号(公開出願番号):特開平8-126614
出願日: 1994年10月31日
公開日(公表日): 1996年05月21日
要約:
【要約】【目的】 安静時に対するストレス負荷時のストレス度を定量的に把握出来るストレス度測定装置を提供する。【構成】 測定装置は、指部の皮膚温を測定する測定器1を具え、該測定器による測定データが演算処理回路5に供給される。演算処理回路5は、安静時の指部皮膚温を基準とする指部皮膚温の低下量とストレス度との関係を関数式として予め格納しており、指部皮膚温の測定データに基づいて指部皮膚温の低下量を算出すると共に、前記関数式を用いて指部皮膚温の低下量に応じたストレス度を算出する。
請求項(抜粋):
安静時に対するストレス負荷時のストレス度を測定する装置であって、抹消部の皮膚温を測定する温度測定手段と、安静時の抹消部皮膚温を基準とする抹消部皮膚温の低下量とストレス度との対応関係が予め格納されているメモリ手段と、前記温度測定手段による測定データに基づいて抹消部皮膚温の低下量を算出すると共に、前記メモリ手段から抹消部皮膚温の低下量に応じたストレス度を導出する演算処理手段とを具えたストレス度測定装置。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-352938
  • 特開昭62-129029
  • 特開平4-352938
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