特許
J-GLOBAL ID：200903073743155176
不良品アノードの検出方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-320414
公開番号（公開出願番号）：特開平10-160417
出願日： 1996年11月29日
公開日（公表日）： 1998年06月19日
要約：
【要約】【課題】 特にショルダー型アノードの鋳造工程に適用して安全かつ確実に不良品の検出でき、かつ判定精度の高い、不良品アノードの検出方法を提供する。【解決手段】 周方向へ連続的に回転移動するターンテーブル1上に設置された鋳型2に対し、所定位置で鋳込まれたショルダー型アノードAにおける電極板部A1と一体化された吊手部A2,A2の形状検出方法である。鋳込まれたアノードAを鋳型2内から一部押し上げて吊手部A2,A2を露出させ、かつ露出された吊手部A2,A2の上方に配置したレーザー距離計10,11により、吊手部A2,A2の高さ位置やアノードA長さ方法における吊手部A2,A2の寸法を測定し、これらと、予め設定された基準高さおよび基準寸法とそれぞれ比較することにより、ショルダー型アノードAのそりや、吊手部A2,A2の上端のばりの有無を検出し、アノードAの良否を判定する。不良品のアノードを摘出する。
請求項（抜粋）：
周方向へ連続的に回転移動するターンテーブル上に設置された鋳型に対し、所定位置で鋳込まれたショルダー型アノードにおける電極板部と一体化された吊手部の形状検出方法であって、前記鋳込まれたショルダー型アノードを鋳型内から一部押し上げて吊手部を露出させ、かつ露出された吊手部の上方に配置したレーザー距離計により、このレーザー距離計と吊手部との距離を連続的に測定することにより、前記吊手部の高さ位置や前記吊手部の前記ショルダー型アノード長さ方向の寸法を求め、これらと、予め設定された基準高さおよび基準寸法とそれぞれ比較することにより、ショルダー型アノードの良否を判定することを特徴とする不良品アノードの検出方法。
IPC (3件)：
G01B 11/02
, B22D 25/04
, G01B 11/00
G01B 11/02 Z
, B22D 25/04 B
, G01B 11/00 B
, G01B 11/00 E
