特許
J-GLOBAL ID:200903073749180377
粒子状物質を分析する方法および装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
吉武 賢次
, 中村 行孝
, 紺野 昭男
, 横田 修孝
, 堅田 健史
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-506199
公開番号(公開出願番号):特表2006-524812
出願日: 2004年04月27日
公開日(公表日): 2006年11月02日
要約:
粒子状物質を分析する方法および装置を提供する。固体粒子状物質、炭化水素および酸性種を含んでなるガスを分析する方法は、該ガスの試料を塩基性材料(52)と接触させ、該酸性種を吸収すること、入口ガスを粒子状物質に関して分析すること、および塩基性材料を離れる該ガス試料を粒子状物質に関して分析することを含んでなる。
請求項(抜粋):
固体粒子状物質、炭化水素および酸性種を含んでなるガスを分析する方法であって、
前記ガスの試料を塩基性材料と接触させ、前記酸性種を吸収し、
前記入口ガスを粒子状物質に関して分析し、および
前記塩基性材料を離れる前記ガス試料を粒子状物質に関して分析する、各工程を含んでなる、方法。
IPC (3件):
G01N 31/00
, G01N 33/00
, G01N 31/10
FI (3件):
G01N31/00 Y
, G01N33/00 D
, G01N31/10
Fターム (7件):
2G042AA01
, 2G042CA01
, 2G042CB06
, 2G042DA02
, 2G042DA03
, 2G042EA02
, 2G042FA08
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