特許
J-GLOBAL ID：200903073758053590
X線装置の焦点-検出器装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-020095
公開番号（公開出願番号）：特開2007-203064
出願日： 2007年01月30日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：
【課題】できるだけ明確な干渉パターンを生成する位相格子によって投影または断層撮影による位相コントラスト画像を作成する。【解決手段】位相格子G1がその突条部S間の間隙L内に、当該エネルギー範囲において突条部の減弱係数よりも高い線形減弱係数を持つ充填材料Bを有し、間隙L内での充填材料Bの高さは、位相シフトの測定に利用されたエネルギーおよび波長λのX線がX線の位相シフトを生成し、位相格子後に、突条部Sを透過したビーム(a)が、充填材料Bを有する間隙Lを透過するビームbに対して半波長だけ位相シフトしているように設定され、X線の減弱が、少なくとも位相シフトの測定に利用されたエネルギーに関して、突条部Sを通過する時と充填材料Bを通過する時とで同じになるように設定されている。【選択図】 図8
請求項（抜粋）：
検査対象(7,P)の投影または断層撮影による位相コントラスト画像を作成するために、
X線を生成しかつ検査対象(7,P)に照射するためのX線源(2)と、
ビーム路中で検査対象(7,P)の後方に配置されX線の予め定められたエネルギー範囲(E)内にX線の干渉パターンを生成する位相格子(G1)と、
位相格子(G1)によって生成された干渉パターンを少なくともその位相シフトに関して位置分解して検出する分析-検出器システムと
から少なくとも構成されているX線装置(1)の焦点-検出器装置(F1,D1)において、
位相格子(G1)がその突条部(S)間の間隙(L)内に、当該エネルギー範囲において突条部の減弱係数よりも高い線形減弱係数を持つ充填材料(B)を有し、
間隙(L)内での充填材料(B)の高さ(hxF,hxyF)は、
一方で、位相シフトの測定に利用されたエネルギーおよび波長(λ)のX線がX線の位相シフト(φ)を生成し、位相格子(G1)後に、突条部(S)を透過したビーム(a)が、充填材料(B)を有する間隙(L)を透過するビーム(b)に対して半波長(λ/2)だけ位相シフトしているように設定され、
他方で、X線の減弱が、少なくとも位相シフト(φ)の測定に利用されたエネルギーに関して、突条部(S)を通過する時と充填材料(B)を通過する時とで同じになるように設定されている
ことを特徴とするX線装置の焦点-検出器装置。
IPC (3件)：
A61B 6/03
, A61B 6/00
, A61B 6/06
A61B6/03 310Z
, A61B6/00 330Z
, A61B6/06 331
2G088EE29
, 2G088FF02
, 2G088FF18
, 2G088JJ08
, 2G088JJ12
, 2G088JJ30
, 4C093AA14
, 4C093AA22
, 4C093BA20
, 4C093CA04
, 4C093CA21
, 4C093DA06
, 4C093EA20
, 4C093EB24
, 4C093EC16
