特許
J-GLOBAL ID:200903073809095757
測距装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
伊藤 進
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-072817
公開番号(公開出願番号):特開2001-264621
出願日: 2000年03月15日
公開日(公表日): 2001年09月26日
要約:
【要約】【課題】小さい装置規模で、広範囲な測距領域から正確且つ短時間に主要被写体に対する測距を可能にする。【解決手段】測距部1は複数の測距エリアで測距を行う。選択部2は複数のエリアから1又は複数の測距エリアを選択し、判別部3は選択されたエリアについて主要被写体であるか否かを検出する。この検出結果に応じて、焦点調節部4が焦点調節を行う。これにより、測距に要する時間を著しく短縮することができる。
請求項(抜粋):
複数の測距エリアにおいて測距可能な測距手段と、上記複数の測距エリアのうちから1個または複数個の測距エリアを選択する選択手段と、上記選択された測距エリアに基づいて、選択された測距エリアが主要被写体であるか否か判別する判別手段と、上記判別手段の出力に基づいて上記測距エリアが主要被写体の場合は、上記測距エリアの測距結果を採用することを特徴とする測距装置。
IPC (4件):
G02B 7/28
, G01C 3/06
, G02B 3/00
, G02B 7/30
FI (4件):
G01C 3/06 V
, G02B 3/00 A
, G02B 7/11 N
, G02B 7/11 A
Fターム (27件):
2F112AC02
, 2F112AC06
, 2F112BA06
, 2F112CA02
, 2F112CA12
, 2F112DA28
, 2F112FA03
, 2F112FA07
, 2F112FA21
, 2F112FA29
, 2F112FA32
, 2F112FA33
, 2F112FA39
, 2H051BB07
, 2H051CB22
, 2H051CE08
, 2H051CE28
, 2H051DA03
, 2H051DA08
, 2H051DA10
, 2H051DA17
, 2H051DA19
, 2H051DA21
, 2H051DA22
, 2H051DA28
, 2H051DA31
, 2H051DA32
引用特許:
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