特許

J-GLOBAL ID：200903073811608834

蛍光X線分析装置

発明者： 吉良 昭道
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-304198
公開番号（公開出願番号）：特開平5-119000
出願日： 1991年10月23日
公開日（公表日）： 1993年05月14日
要約：

【要約】【目的】 試料が液体であっても測定することができ、しかも、X線パス部の気圧や温度変化の影響を受けることなく、経済的に試料分析を行うことができる蛍光X線分析装置を提供すること。【構成】 試料6に対して空気層よりなるX線パス部7を介して一次X線14を照射し、試料から放出される二次X線16に基づいて試料分析を行うようにした蛍光X線分析装置において、前記一次X線14として単一エネルギーまたはそれに近い単色の一次X線を用いると共に、前記X線パス部7の気圧および温度を測定し、この測定された気圧および温度を用いて、前記蛍光X線および散乱X線の強度を補正し、この補正された蛍光X線と散乱X線との比をとるようにしている。

請求項（抜粋）：

試料に対して空気層よりなるX線パス部を介して一次X線を照射し、試料から放出される二次X線に基づいて試料分析を行うようにした蛍光X線分析装置において、前記一次X線として単一エネルギーまたはそれに近い単色の一次X線を用いると共に、前記X線パス部の気圧および温度を測定し、この測定された気圧および温度を用いて、前記蛍光X線および散乱X線の強度を補正し、この補正された蛍光X線と散乱X線との比をとるようにしたことを特徴とする蛍光X線分析装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭51-060591
  
• 特開平2-257045
  
• 特開昭60-061649
  
• 特開昭57-086030