特許
J-GLOBAL ID：200903073822544374
測定装置及び測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-140883
公開番号（公開出願番号）：特開2007-309857
出願日： 2006年05月19日
公開日（公表日）： 2007年11月29日
要約：
【課題】被測定物の情報の取得時間を比較的短くできる測定装置及び方法である。【解決手段】測定装置は、光路切り替え手段8、20と、電磁波供給手段1、2、9と、遅延手段4と、検出手段1、3、9と、処理手段5を有する。光路切り替え手段は、被測定物7のある光路を含む複数光路A、Bから択一的に選択される光路を切り替える。電磁波供給手段は、選択光路に電磁波11を供給する。遅延手段4は、サンプリングパルスに可変に遅延時間を生じさせる。検出手段は、電磁波11と遅延手段4からのサンプリングパルスを受けて電磁波11の電場強度の時間波形を検出する。処理手段4は、検出された電場強度の時間波形を処理して被測定物7の情報を取得する。検出手段が、複数光路を経た電磁波の電場強度の時間波形を検出できる様に、遅延手段によるサンプリングパルスの遅延時間の変化に応じて、光路切り替え手段による選択光路の切り替えタイミングを設定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被測定物が配置されるべき少なくとも1つの光路を含む複数の光路のうちから択一的に選択される光路を切り替えるための光路切り替え手段と、
前記選択される光路に電磁波を供給するための電磁波供給手段と、
サンプリングパルスに可変に遅延時間を生じさせるための遅延手段と、
前記選択される光路を経た電磁波と前記遅延手段からのサンプリングパルスを受けて前記選択される光路を経た電磁波の電場強度の時系列波形を検出するための電磁波検出手段と、
前記電磁波検出手段で検出される前記電場強度の時系列波形を処理して被測定物の情報を取得するための処理手段と、
を有し、
前記選択される光路を経た電磁波と前記遅延手段からのサンプリングパルスを前記電磁波検出手段が受けて前記複数の光路を経た電磁波の電場強度の時系列波形を夫々検出できる様に、前記遅延手段によるサンプリングパルスの遅延時間の変化に応じて、前記光路切り替え手段による前記選択される光路の切り替えのタイミングを設定することを特徴とする測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (15件)：
2G059AA02
, 2G059CC20
, 2G059FF04
, 2G059FF20
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059JJ22
, 2G059JJ30
, 2G059KK10
, 2G059MM01
, 2G059MM10
