特許
J-GLOBAL ID：200903073834250864
開裂イオン質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
縣 浩介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-348801
公開番号（公開出願番号）：特開平5-159741
出願日： 1991年12月05日
公開日（公表日）： 1993年06月25日
要約：
【要約】【目的】 質量分析された親イオンの開裂で生じた娘イオンを質量分析する装置で分析精度を向上させる。【構成】 前段の質量分析部1と後段の多重極型質量分析部2との間に開裂室3を設け、この開裂室内に多重極型イオンレンズ4を配置した型の質量分析装置において、上記イオンレンズに印加する直流電圧或は高周波電圧に交流電圧を重畳した。【作用】 上記重畳した交流電圧により多重極型イオンレンズの透過率の質量依存性が完全になくなり、分析の定量・定性精度が向上する。
請求項（抜粋）：
前段の質量分析部と後段の質量分析部との間のイオン開裂室にイオン収束用の多重極型イオンレンズを配置した型の開裂イオン質量分析装置において、上記多重極型イオンレンズに印加する高周波電圧或は高周波と直流の重畳した電圧に対し変調或は重畳するため、或は上記前段質量分析部とイオン開裂室との間のイオン加速用直流電圧に重畳して交流電圧を印加するため交流電源を設けたことを特徴とする開裂イオン質量分析装置。
IPC (2件)：
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