特許
J-GLOBAL ID：200903073839294630
ICソケット装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-193561
公開番号（公開出願番号）：特開平9-043307
出願日： 1995年07月28日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：
【要約】【課題】ICの特性測定の場合に、ICソケットの押え蓋をテスタに連動させ自動に固定及び解放させることで、ICの測定を容易にする。【解決手段】ICソケットの押え蓋2に永久磁石3を内蔵させ、ICソケット本体1に内蔵した電磁石4に電流を供給しその電磁力で押え蓋2を固定する。この電磁石4に電流を供給するコントローラ5をテスタ6に連動させることで、テストのタイミングに合ったICソケットの着脱を、自動的に行うことができる。
請求項（抜粋）：
試験すべきICの各端子と対応して設けられると共にテスタと接続されるコンタクトピンを備えこのICを装着するソケットと、このソケットの一端に端部が支持され前記ICを押圧する押え蓋と、この押え蓋の他端に前記ソケットと面して一方の極性を向けて設けられた磁性体と、この磁性体と対向して一磁極が向くように前記ソケット内に設けられた電磁石と、この電磁石を前記テスタのテスト動作と同期してオン・オフ制御するコントローラとを有することを特徴とするICソケット装置。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, H01L 23/32
, H01R 33/76
G01R 31/26 J
, H01L 23/32 A
, H01R 33/76
