特許
J-GLOBAL ID：200903073850394922
検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-320590
公開番号（公開出願番号）：特開2005-093462
出願日： 2003年09月12日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：
【課題】基板全面検査方式による実装基板検査装置の検査データには、不良箇所に該当する部品番号や座標を伴わないので、品質管理データとして利用できないという課題があった。【解決手段】基板全面を比較検査する実装基板の検査装置において、自動検査で検出した基準基板と検査基板の相違点と、コンピュータ設計データに基づく部品領域とを基板画像上に同時に重ねて表示し、再検査によって相違点の中から不良箇所を選別し、部品領域にヒットした不良箇所には部品IDデータを添付して実装不良箇所あるいは部品不良箇所として報告し、それら以外の不良箇所には基板座標データを添付して表面不良箇所として報告するので、品質情報化検査データの報告が実現する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
部品実装基板全面を比較画像処理することで検査領域設定を不要化した検査装置であって、
基板の種類・番号(ID)とコンピュータ設計(CAD)データと部品領域の設定方式を教示する教示手段と、
ピクセル配置がX軸方向に沿う1次元イメージセンサ及びX軸に直交するYテーブルを備え、基板あるいはセンサを相対的にY軸移動して基板全面の画像を獲得する撮像手段と、
獲得した基板全面の画像を保存するデータ保存手段と、
撮像手段が獲得した検体基板画像と保存した基準基板画像との比較画像処理を行って両者の相違点を抽出するアルゴリズムを備える画像処理手段と、
基板画像に部品領域と相違点とを同時に重ねて表示する表示手段と、
相違点を目視判定して不良箇所のみを選別する再検査手段と、
不良箇所がヒットした部品領域において、教示されていた部品IDデータを顕現化して添付して部品実装不良箇所とし、それ以外の不良箇所に基板座標値を添付して基板表面不良箇所とする、検査データの品質情報化手段とより成る検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H05K3/00 Q
, G01N21/956 B
2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051CA04
, 2G051CA11
, 2G051CB01
, 2G051DA07
, 2G051EA12
, 2G051ED11
