特許

J-GLOBAL ID：200903073936221184

焦点調整機構とズーム機構による高精度3次元計測方法およびそのための高精度3次元計測装置

発明者： 大場 光太郎 ,  谷江 和雄 ,  ジーザス カルロス ペドラザ オルテガ
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-305495
公開番号（公開出願番号）：特開2003-106825
出願日： 2001年10月01日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：

【要約】【課題】物体の奥行き精度を向上する焦点調整機構とズーム機構による高精度三次元計測方法およびそのための装置を提供することを目的とする。【解決手段】焦点調整機構とズーム調節機構による高精度三次元計測方法において、ズーム調節機構は処理手段の制御信号に応じてズーム値を可変する手順、焦点調節機構は処理手段の制御信号に応じて焦点深さ値を可変する手順、撮像手段は前記ズーム調節機構および前記焦点調節機構を介して被写体の画像を撮像する手順、前記処理手段は、前記ズーム調節機構をサンプリング位置を増加または減少する方向に一定間隔毎に設定すると共に、前記ズーム調節機構のサンプリング位置毎に前記焦点調節機構に被写体の焦点合わせを行わせて注目画素の画素値を抽出する手順とからなることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

ズーム調節機構は処理手段の制御信号に応じてズーム値を可変する手順、焦点調節機構は処理手段の制御信号に応じて焦点深さ値を可変する手順、撮像手段は前記ズーム調節機構および前記焦点調節機構を介して被写体の画像を撮像する手順、前記処理手段は、前記ズーム調節機構をサンプリング位置を増加または減少する方向に一定間隔毎に設定すると共に、前記ズーム調節機構のサンプリング位置毎に前記焦点調節機構に被写体の焦点合わせを行わせて注目画素の画素値を抽出する手順とからなることを特徴とする焦点調整機構とズーム調節機構による高精度三次元計測方法。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G02B 7/08 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/36 ,  G03B 13/36

FI (6件)：

G02B 7/08 A ,  G02B 7/08 C ,  G01B 11/24 A ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 D ,  G03B 3/00 A

Fターム (26件)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF10 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL06 ,  2F065QQ31 ,  2H011AA06 ,  2H011BA31 ,  2H011BB02 ,  2H011BB04 ,  2H011CA01 ,  2H011CA21 ,  2H044DA01 ,  2H044DA02 ,  2H044DC02 ,  2H051AA00 ,  2H051BA47 ,  2H051CD13 ,  2H051CD30 ,  2H051CE01 ,  2H051CE14 ,  2H051DD09 ,  2H051EB13 ,  2H051FA61

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 合焦装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-138549   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• ホイールアラインメント測定装置及びホイールアラインメント測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-002388   出願人：株式会社鷺宮製作所
• 特開平4-317273