3次元形状測定装置におけるカメラパラメータ校正方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：香山秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-138284
公開番号（公開出願番号）：特開2003-329423
出願日： 2002年05月14日
公開日（公表日）： 2003年11月19日
要約：

【要約】【課題】この発明は、カメラの外部パラメータの校正が容易となる3次元形状計測装置のカメラ校正方法を提供することを目的とする。【解決手段】複数の平面部を備え、各平面部上にはその平面部上の二次元座標が既知である少なくとも6点以上の参照点が配置されている校正治具を、軌道の内側に配置するステップ、ならびに軌道上の複数の測定位置において、校正治具の各平面部の参照点の画像をカメラによって取得し、取得した参照点の画像に基づいて、軌道上の複数の測定位置におけるカメラの外部パラメータを推定するステップを備えている。

請求項（抜粋）：

軌道上の複数の測定位置から被測定物をカメラで撮像することにより、被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置におけるカメラパラメータ校正方法において、複数の平面部を備え、各平面部上にはその平面部上の二次元座標が既知である少なくとも6点以上の参照点が配置されている校正治具を、軌道の内側に配置するステップ、ならびに軌道上の複数の測定位置において、校正治具の各平面部の参照点の画像をカメラによって取得し、取得した参照点の画像に基づいて、軌道上の複数の測定位置におけるカメラの外部パラメータを推定するステップ、を備えていることを特徴とする3次元形状測定装置におけるカメラパラメータ校正方法。

IPC (2件)：

G01B 11/24 , G06T 1/00 315

FI (2件)：

G06T 1/00 315 , G01B 11/24 K

Fターム (20件)：

2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF61 , 2F065FF67 , 2F065GG07 , 2F065GG15 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065PP02 , 2F065QQ21 , 2F065QQ28 , 2F065QQ31 , 5B057BA13 , 5B057CA13 , 5B057CA16 , 5B057DA20 , 5B057DB03 , 5B057DC01

引用特許：

審査官引用 (2件)

実立体モデル作成装置、立体データ作成装置、疑似立体データ作成装置並びにその方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-021003 出願人：三洋電機株式会社
特開昭64-044805

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