特許
J-GLOBAL ID：200903073980351079
割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法および竪旋盤
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三好 秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-177102
公開番号（公開出願番号）：特開平11-019801
出願日： 1997年07月02日
公開日（公表日）： 1999年01月26日
要約：
【要約】【課題】 経験度を要することなく割り出しテーブルの旋回中心位置の計測を高精度に行うこと。【解決手段】 割り出しテーブル13の旋回中心位置に取り付けられた測定基準ブロック17の外周面の最左位置と最右位置とを顕微鏡21により拡大観察してこの最左位置と最右位置のX座標値より割り出しテーブル13の旋回中心のX座標値を算出し、顕微鏡21により測定基準ブロック17の外周面の最上位置と最下位置とを拡大観察してこの最上位置と最下位置のX座標値より割り出しテーブル13の旋回中心のY座標値を算出して割り出しテーブル13の旋回中心位置の測定する。
請求項（抜粋）：
割り出しテーブルに当該割り出しテーブルの旋回中心と同心の位置に円柱体あるいは円筒体による測定基準ブロックを固定し、割り出しテーブルと機械フレーム側に設けられた顕微鏡とを相対的にX座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により前記測定基準ブロックの外周面の最左位置を拡大観察してこの最左位置のX座標値を取得し、前記割り出しテーブルを180度旋回させ、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にX座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最右位置を拡大観察してこの最右位置のX座標値を取得し、前記測定基準ブロックの最左位置のX座標値と最右位置のX座標値とから前記割り出しテーブルの旋回中心のX座標値を算出し、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にY座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最上位置を拡大観察してこの最上位置のY座標値を取得し、前記割り出しテーブルを180度旋回させ、前記割り出しテーブルと前記顕微鏡とを相対的にY座標軸方向に移動させて前記顕微鏡により測定基準ブロックの外周面の最下位置を拡大観察してこの最下位置のY座標値を取得し、前記測定基準ブロックの最上位置のY座標値と最下位置のY座標値とから前記割り出しテーブルの旋回中心のY座標値を算出し、前記割り出しテーブルの旋回中心のX座標値とY座標値とを得ることを相対的に特徴とする割り出しテーブルの旋回中心位置の測定方法。
IPC (4件)：
B23B 3/20
, B23B 25/06
, B23Q 17/00
, G01B 21/00
B23B 3/20
, B23B 25/06
, B23Q 17/00 A
, G01B 21/00 F
