特許

J-GLOBAL ID：200903073991978120

3D測定装置をキャリブレーションする方法

発明者： マルクス・バゼル ,  ベルトラム・カウペルト ,  アルミン・マイドホフ ,  フリーダー・ペトリ ,  マティアス・プラムズ
出願人/特許権者： シュタインビッヘラー オプトテクニーク ゲーエムベーハー
代理人 (8件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-312889
公開番号（公開出願番号）：特開2005-134394
出願日： 2004年10月27日
公開日（公表日）： 2005年05月26日
要約：

【課題】3D測定装置をキャリブレーションする方法を提供する。【解決手段】本方法は、3D測定装置(1)をキャリブレーションするためのものである。製造メーカー固有のノウハウを要することなく任意の3D測定装置(1)をキャリブレーションできるようにするために、3D測定装置(1)のキャリブレーションされるべき測定体積(12)内の1つまたは複数の位置で参照体(14)の1つまたは複数の指標体(15、16、17)を測定する。測定された値から、測定誤差を表す目安を測定体積(12)内の位置に依存して求める。これに基づいて、誤差修正関数を求める。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

3D測定装置(1)をキャリブレーションする方法であって、 3D測定装置(1)のキャリブレーションされるべき測定体積(12)内の1つまたは複数の位置で参照体(14、24)の1つまたは複数の指標体(15、16、17、25)を測定し、 測定された値から、測定誤差を表す目安を測定体積(12)内の位置に依存して求め、 それに基づいて誤差修正関数を求めることを特徴とする方法。

IPC (1件)：

G01B21/00

FI (1件)：

G01B21/00 E

Fターム (35件)：

2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA26 ,  2F065AA37 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065CC11 ,  2F065FF04 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG13 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP04 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ42 ,  2F069AA04 ,  2F069AA39 ,  2F069AA99 ,  2F069BB21 ,  2F069FF07 ,  2F069GG01 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG58 ,  2F069GG62 ,  2F069HH01 ,  2F069HH30 ,  2F069LL02 ,  2F069LL06 ,  2F069NN18 ,  2F069NN26

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 欧州特許第0452422号
  
• ドイツ特許第10023604号
  
• 米国特許出願第2003/0038933号