特許

J-GLOBAL ID：200903074015190590

測定来歴の報告機能を有する自動分析装置

発明者： 菊池 隆広 ,  今井 恭子
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立計測エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-159662
公開番号（公開出願番号）：特開平10-010131
出願日： 1996年06月20日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】キャリーオーバが原因であるデータ不良が発生した際、操作者が当該項目の測定来歴(当該項目の前に測定した検体の番号、検体種別、測定項目、試薬の種類)を参照し、洗浄の指定などのキャリーオーバ対応が即座にできる自動分析装置が求められている。【解決手段】自動分析装置において、測定来歴の検索条件を入力する入力部、検索プログラム内蔵した情報処理部、サンプルプローブ、試薬プローブ、撹拌棒、反応容器などの各装置部品の動作信号を記憶するメモリ(34、35、36、37)、検索結果を出力する出力部、各装置部品の動作信号を記憶し、保存する記憶部からなる。データ不良に対し、従来のような定常の測定操作とは別のキャリーオーバ試験を実施する必要性が少なくなり、労力や試薬などの負担が軽くなる。また、操作者が、キャリーオーバ回避のための洗浄の指定などの対応を迅速に行う事ができる。

請求項（抜粋）：

複数の分析項目を測定する自動分析装置において、測定対象の分析項目の分析に使用するサンプルプローブ、試薬プローブ、撹拌棒、反応容器などの装置部品について、当該分析項目の分析前に測定した検体、分析項目、試薬の種類を記憶し、その内容を出力する手段を有することを特徴とする自動分析装置。