特許

J-GLOBAL ID：200903074056445853

データ処理方法および装置

発明者： 佐々本 裕方 ,  中井 康博
出願人/特許権者： 東レ株式会社
代理人 (1件)： 伴 俊光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-033013
公開番号（公開出願番号）：特開平10-222675
出願日： 1997年01月31日
公開日（公表日）： 1998年08月21日
要約：

【要約】【課題】 スジ、ムラ等の欠点を検出する検査装置において、測定範囲ぎりぎりまで測定が可能で、誤検出、見逃しの少ない検査を可能とする。【解決手段】 スジ、ムラ等を測定範囲ぎりぎりまで強調するために必要なデータを外挿する方法において、外挿するデータの値Ae が、外挿するデータの位置から最短距離の位置にある測定データの値A0 と、測定データを中心として外挿するデータと点対称の位置にある測定データの値An との2つの値に関して、Ae =2A0 -An となるように外挿を行って処理する。

請求項（抜粋）：

1次元以上、3次元以下のデジタルデータの端部データに対するデータ処理方法であって、外挿するデータの値Ae が、外挿するデータの位置から最短距離の位置にある測定データの値A0 と、該測定データを中心として前記外挿するデータと点対称の位置にある測定データの値An との2つの値に関して、Ae =2A0 -An となるように外挿を行って処理を行うことを特徴とするデータ処理方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G01N 21/88 ,  G06T 5/00

FI (3件)：

G06F 15/62 400 ,  G01N 21/88 J ,  G06F 15/68 310 J