特許

J-GLOBAL ID：200903074086180790

3次元測定方法と、これを利用した測量機

発明者： 大石 政裕 ,  高梨 将輝
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 和泉 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-286096
公開番号（公開出願番号）：特開2000-097703
出願日： 1998年09月21日
公開日（公表日）： 2000年04月07日
要約：

【要約】[目的] 本発明は、距離、角度データ等から任意の3次元の座標位置、距離、面積等を演算することのできる光波距離計及び測定方法等を提供することを目的とする。[構成] 本発明は、測定対象物の測定点を含む平面α上の少なくとも3点を特定し、原点から特定点である少なくとも3点との距離、角度を測定し、距離データと角度データを利用して、平面αを特定する式を決定し、原点から測定点を視準して測角し、原点から測定点を結ぶ直線の式を決定し、平面αを特定する式と、原点から測定点を結ぶ直線の式との交点である測定点を演算することができる。

請求項（抜粋）：

測定対象物の測定点を含む平面α上の少なくとも3点を特定し、原点から特定点である少なくとも3点との距離、角度を測定する第1工程と、この第1工程で得られた距離データと角度データを利用して、平面αを特定する式を決定する第2工程と、前記原点から前記測定点を視準して測角し、前記原点から該測定点を結ぶ直線の式を決定する第3工程と、前記第2工程で得られた平面αを特定する式と、前記第3工程で得られた前記原点から該測定点を結ぶ直線の式との交点である測定点を演算する第4工程とからなる3次元測定方法。

IPC (4件)：

G01C 15/00 ,  G01C 1/02 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (5件)：

G01C 15/00 Z ,  G01C 15/00 A ,  G01C 1/02 L ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 355

Fターム (14件)：

5B057BA15 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC02 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5L096AA09 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096GA32 ,  9A001GG01 ,  9A001HH29 ,  9A001JJ71 ,  9A001KK16