特許

J-GLOBAL ID：200903074088092847

自動分析装置

発明者： 高橋 克明
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-238110
公開番号（公開出願番号）：特開2000-065744
出願日： 1998年08月25日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
要約：

【要約】【課題】光度計のドリフトの影響が少ない自動分析装置を提供する。【解決手段】反応容器の一部の容器は反応には使用せず、その反応に使用しない容器内には測定中はいつも同じ物質が充填されており、反応に使用する容器内の反応液の吸光度は、いつも同じ物質が充填された容器の吸光度を基準とした測定値に補正する。

請求項（抜粋）：

複数の反応容器を配列した反応ディスクの回転停止を繰り返し、回転中に反応容器が光度計の光軸を横切る瞬間に反応容器内の反応液の吸光度を測定する自動分析装置において、該反応容器の一部の容器は反応には使用せず、その反応に使用しない容器内には測定中はいつも同じ物質が充填されており、反応に使用する容器内の反応液の吸光度は、いつも同じ物質が充填された容器の吸光度を基準とした測定値に補正されることを特徴とした自動分析装置。

IPC (5件)：

G01N 21/78 ,  G01N 21/13 ,  G01N 35/00 ,  G01N 35/02 ,  G01N 35/04

FI (5件)：

G01N 21/78 Z ,  G01N 21/13 ,  G01N 35/00 A ,  G01N 35/02 E ,  G01N 35/04 A

Fターム (21件)：

2G054AA07 ,  2G054EA04 ,  2G054EB05 ,  2G054FA06 ,  2G054FA40 ,  2G054FA50 ,  2G054GB01 ,  2G054JA08 ,  2G057AA01 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057DC07 ,  2G057GA10 ,  2G057HA03 ,  2G057JA02 ,  2G058CD04 ,  2G058EA02 ,  2G058EA04 ,  2G058FB02 ,  2G058GA02 ,  2G058GD03