特許
J-GLOBAL ID：200903074090686584
微生物集落の検査方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-387599
公開番号（公開出願番号）：特開2005-143425
出願日： 2003年11月18日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：
【課題】画像を用いて微生物集落を検査する微生物検査装置において、解析をおこなうため、撮像系の汚れや培地に混入する残滓物など画像上のノイズを除去した画像とするための画像処理方法を得る。【解決手段】撮像系の汚れなどのノイズを除去する目的の場合は培地などを設置せずに撮像系のみの画像を、培地に混入する残滓物などのノイズを除去する目的の場合は菌を播種した直後で微生物集落が発育する前の画像を撮像し、ノイズの座標を記録する。所定の培養後に撮像した画像について、ノイズの座標の画素にのみフィルター処理を行い、ノイズの無い画像を得る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
培地を撮像する装置にあって、画像上ノイズの載る座標の画素について選択的にフィルター処理を行い、ノイズを除去した画像を得る方法
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
4B029AA07
, 4B029AA27
, 4B029BB01
, 4B029FA01
