特許
J-GLOBAL ID：200903074122777587
光波形測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-300937
公開番号（公開出願番号）：特開平8-159867
出願日： 1994年12月05日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：
【要約】【目的】 低ノイズのサンプリング測定を行う光波形測定装置を提供する。【構成】 被測定パルス光(101)は、光変調手段(140)によって強度変調された後、光偏向手段(104)に入射され、ここで所定の時間にわたって掃引される。このとき被測定パルス光は、光変調手段(140)の変調によって掃引時間外の光強度が低減されている。これにより、掃引時間外に光検出手段(108)に入射する被測定パルス光の強度が低減される。掃引時間外の被測定光強度を十分に低減すれば、掃引時間外にスリットを透過する被測定光はほとんどなくなる。これにより、ノイズの少ないサンプリング測定が行われる。
請求項（抜粋）：
繰り返し入射される被測定パルス光の強度を印加される第1の駆動電気信号の大きさに応じて変調する光変調手段と、前記光変調手段から出射した前記被測定パルス光を印加される第2の駆動電気信号の大きさに応じた角度に偏向させてこの被測定パルス光を掃引する光偏向手段と、透光性の窓部が形成された不透光性の光入射面を有し、前記光偏向手段によって所定の角度に偏向された前記被測定パルス光を前記窓部から透過させる遮光手段と、この遮光手段を透過した前記被測定パルス光を受光し、その光強度に応じたレベルの電気信号を出力する光検出手段と、前記光変調手段に前記第1の駆動電気信号を前記被測定光の各パルスごとにタイミングをずらして印加し、前記光偏向手段に前記第2の駆動電気信号を前記被測定光の各パルスごとにタイミングをずらして印加するとともに、前記第2の駆動電気信号の印加タイミングずれの情報を出力する駆動制御手段と、この印加タイミングずれの情報と前記光検出手段の出力信号とに基づいて前記被測定パルス光の波形を求める情報処理手段と、を備え、前記光変調手段は、この光変調手段から出射する前記被測定パルス光の掃引時間外における強度を前記光変調手段への入射前より低減させることを特徴とする光波形測定装置。
IPC (4件)：
G01J 1/02
, G01J 1/00
, G01J 3/28
, G01J 11/00
