特許
J-GLOBAL ID:200903074136262857

光検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-324270
公開番号(公開出願番号):特開2001-141562
出願日: 1999年11月15日
公開日(公表日): 2001年05月25日
要約:
【要約】【課題】 光検出のダイナミックレンジが大きく、光検出精度が優れ、回路規模が小さい光検出装置を提供する。【解決手段】 積分回路10で、フォトダイオードPDより出力された電流信号に応じた電荷が蓄積され、この電荷量に応じた積分信号が出力される。CDS回路20で、積分信号値の変化量に応じた値のCDS信号が出力される。比較回路30で、CDS信号値と基準電圧値とが大小比較され、CDS信号値が基準電圧値以上であれば、その旨を示す飽和信号が出力される。論理和回路61により、CDS信号値が基準電圧値以上であるときに、積分回路10に蓄積されている電荷がリセットされる。計数回路40により、CDS信号値が基準電圧値以上となった事象が計数されて、その計数値が第1のデジタル信号として出力される。基準電圧値をA/D変換レンジとするA/D変換回路50によりCDS信号がA/D変換されて、そのA/D変換結果が第2のデジタル信号として出力される。
請求項(抜粋):
受光した光の光量に応じた電流信号を出力する受光素子と、前記受光素子から出力された電流信号に応じて電荷を蓄積して、その蓄積された電荷の量に応じた積分信号を出力する積分回路と、前記積分信号の値と基準電圧値とを大小比較して、前記積分信号の値が前記基準電圧値以上であれば、その旨を示す飽和信号を出力する比較回路と、前記飽和信号に基づいて、前記積分信号の値が前記基準電圧値以上であるときに、前記積分回路に蓄積されている電荷をリセットするリセット手段と、前記飽和信号に基づいて、前記積分信号の値が前記基準電圧値以上となった事象を計数して、その計数値を第1のデジタル信号として出力する計数回路と、前記基準電圧値をA/D変換レンジとして前記積分信号をA/D変換して、そのA/D変換の結果を第2のデジタル信号として出力するA/D変換回路と、を備えることを特徴とする光検出装置。
IPC (4件):
G01J 1/46 ,  G01J 1/44 ,  H01L 31/10 ,  H04N 5/335
FI (4件):
G01J 1/46 ,  G01J 1/44 A ,  H04N 5/335 P ,  H01L 31/10 G
Fターム (30件):
2G065AA04 ,  2G065AA11 ,  2G065AB04 ,  2G065BA09 ,  2G065BA33 ,  2G065BA34 ,  2G065BC01 ,  2G065BC08 ,  2G065BC14 ,  2G065BC15 ,  2G065BC16 ,  2G065BC17 ,  2G065BC28 ,  5C024AA01 ,  5C024CA05 ,  5C024CA15 ,  5C024EA04 ,  5C024FA01 ,  5C024GA48 ,  5C024HA06 ,  5C024HA07 ,  5C024HA14 ,  5C024HA17 ,  5C024HA18 ,  5F049MA01 ,  5F049NA19 ,  5F049NA20 ,  5F049NB03 ,  5F049NB05 ,  5F049UA20
引用特許:
審査官引用 (7件)
  • 特開昭59-152723
  • 特開昭59-152723
  • 特開昭59-152723
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引用文献:
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