特許

J-GLOBAL ID：200903074215026859

半導体装置及びそのテスト方法

発明者： 宍倉 伸夫
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-182738
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013224
出願日： 1999年06月29日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】 レーザ等で切断されるヒューズの切断の有無を判定する回路において、ヒューズが中途半端に切断されたため判定結果が不安定である場合、出荷テスト時に良品と判断され、顧客の使用時に不良品と判定されることがある。【解決手段】 第1の電源と第2の電源との間にヒューズ及び第1のスイッチとを直列に接続し、ヒューズと第1のスイッチとの接続点の電位によりヒューズの切断の有無を判定する半導体装置のテスト方法であって、電位の状態により制御される判定回路の出力と制御信号とを用いて、通常モードでは期待値の判定を行い、かつ、テストモードでは電源間の電流量を測定することにより、ヒューズの切断状態を判定する。

請求項（抜粋）：

第1の電源と第2の電源との間に直列接続されたヒューズ及び第1のスイッチと、入力端子が前記ヒューズと前記第1のスイッチとの接続点に接続され、前記ヒューズの切断の有無を判定する判定回路とを具備し、前記第1のスイッチ回路は、前記判定回路の出力と制御信号とにより制御されることを特徴とする半導体装置。

IPC (5件)：

G01R 31/3185 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/319 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (3件)：

G01R 31/28 W ,  G01R 31/28 R ,  H01L 27/04 T

Fターム (13件)：

2G032AA00 ,  2G032AC03 ,  2G032AD01 ,  2G032AD08 ,  2G032AE08 ,  2G032AH03 ,  2G032AK11 ,  2G032AK15 ,  5F038AV15 ,  5F038DT02 ,  5F038DT08 ,  5F038DT10 ,  5F038EZ20