特許

J-GLOBAL ID：200903074215702382

放射線測定装置

発明者： 田部井 俊明 ,  田村 和行 ,  伊勢 一昌
出願人/特許権者： アロカ株式会社
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-128723
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326528
出願日： 1998年05月12日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 X線を被検体に透過させる放射線測定装置において、電荷蓄積型のX線検出器で生じる暗電流を除外する補正を行なう。【解決手段】 被検体10の上方にはX線発生器14が設けられ、被検体10の下方にはX線検出器16が設けられている。シャッタ装置20は、シャッタ板22を周期的に駆動し、X線ビーム13を間欠的に遮断する。演算部28は、放射線照射時における検出データと放射線非照射時における検出データ(暗電流データ)との差分を演算し、これにより暗電流の除外補正を行なう。被検体10の測定中における暗電流の変動があってもそれを効果的に除去可能である。

請求項（抜粋）：

放射線を発生する発生装置と、前記発生装置で発生された放射線を検出する検出装置と、各放射線測定ごとに、前記検出装置で放射線の検出が間欠的に行われるように制御する間欠制御部と、前記検出装置における放射線検出時の測定値に対し、時間的に近傍の放射線非検出時の測定値を利用して暗電流を除外する補正を行う補正演算手段と、を含むことを特徴とする放射線測定装置。

IPC (3件)：

G01T 7/00 ,  A61B 6/00 ,  G01T 1/17

FI (3件)：

G01T 7/00 C ,  G01T 1/17 C ,  A61B 6/00 350 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭60-021426
  
• 特開昭60-021426
  
• 特開昭60-021426