特許
J-GLOBAL ID：200903074249965374
蛍光X線分析用ガラスビード試料の調整方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-144918
公開番号（公開出願番号）：特開平7-020020
出願日： 1993年06月16日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：
【要約】【目的】金属成分,還元性成分または含水鉱物,炭酸塩等の試料が、溶融に用いた試料皿との間で合金を生成したり溶融中に気泡が発生しても、平滑かつ平坦で分析精度の高い蛍光X線分析用ガラスビ-ド試料を形成する。【構成】白金または白金とその他貴金属を含む合金から成る試料皿に、試料を入れ、これを加熱装置で予備溶融する工程と、冷却したガラスビ-ド試料を粉砕し粉末化する工程と、粉砕された粉末試料を再び試料皿に入れ、加熱装置で加熱溶融する工程とを含む。
請求項（抜粋）：
白金又は白金を主体とするする合金から成る試料皿を用いて試料と融剤とを加熱装置で加熱して蛍光X線分析用ガラスビード試料を作製する方法において、試料と融剤とを試料皿に入れ、これを加熱装置で予備溶融する工程と、冷却したガラスビード試料を粉末化する工程と、再び前記粉末試料を試料皿に入れ、加熱装置で加熱溶融する工程とを含むことを特徴とする蛍光X線分析用試料の調整方法。
IPC (2件)：
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