特許

J-GLOBAL ID：200903074252092748

プログラムのテストシステム

発明者： 上田 裕明 ,  菊池 庸之
出願人/特許権者： 日本電気株式会社 ,  日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 後藤 洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-310335
公開番号（公開出願番号）：特開平7-160535
出願日： 1993年12月10日
公開日（公表日）： 1995年06月23日
要約：

【要約】【目的】 被テストプログラムのテストを正確に行い、テスト作業を容易、短時間にすることのできるテストシステムを提供すること。【構成】 被テストプログラム15のファイル名やテストするために必要なルーチン名などが予め書き込まれるパラメータファイル7と、被テストプログラムとの間でデータを送受信するテストプログラム1と、実行時にテストプログラムにより呼び出されて、ルーチン内の関数本体がリンクされるライブラリモジュールLM9と、被テストプログラムを実行した後の結果が書き込まれる履歴ファイル8とを具備した。

請求項（抜粋）：

ハードウエアとOSの間でデータの入出力を制御する複数の被テストプログラムをテストするテスト処理システムにおいて、被テストプログラムのファイル名やテストするために必要なルーチン名などが予め書き込まれるパラメータファイルと、被テストプログラムとの間でデータを送受信するテストプログラムと、実行時にテストプログラムにより呼び出されて、ルーチン内の関数本体がリンクされるライブラリモジュール(以降、LMと略称する)と、被テストプログラムを実行した後の結果が書き込まれる履歴ファイルとを具備することを特徴とするプログラムのテストシステム。