特許

J-GLOBAL ID：200903074286453561

屈折率分布測定方法及び装置

発明者： 井上 享 ,  服部 保次
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-223132
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060653
出願日： 1991年09月03日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 脈理を有する光ファイバ母材の屈折率分布を高分解能で迅速に測定する。【構成】 屈折率分布を測定する光ファイバ母材13の一横断面を含む面に沿って設けられた第1の一次元センサ19の両側に第2の一次元センサ20a,20bを設け、通常状態には第1の一次元センサ19で検知された透過光の位置情報より該透過光の屈折角を測定し、この第1の一次元センサ19に検知される透過光のピーク値が基準値より低くなった場合には第2の一次元センサ20a,20bで検知された位置情報により上記透過光の屈折角を測定する。

請求項（抜粋）：

円柱状透明体の一横断面の内部屈折率分布を求めるに際して該円柱状透明体を側面からレーザ収束光により走査してその透過光の屈折角を測定する屈折率分布測定方法において、通常状態には上記一横断面を含む面に沿って設けられた一次元センサで検知された透過光の位置情報より該透過光の屈折角を測定する一方、上記一次元センサに検知される透過光のピーク値が基準値より低くなった場合には該一次元センサに直交する方向両側に設けられた他の一次元センサ又は二次元センサで検知された位置情報により上記透過光の屈折角を求めることを特徴とする屈折率分布測定方法。