特許
J-GLOBAL ID：200903074292658400
円筒状物体の曲りと外径と真円度の同時測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-034706
公開番号（公開出願番号）：特開平6-229742
出願日： 1993年01月29日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【目的】 曲り測定と外径測定との共通点を利用して、円筒状の測定物に対して曲りと外径と真円度を同時にかつ高精度に測定することができるようにする。【構成】 円筒状の測定物1を軸方向の離れた2カ所で下方から支持し、測定物1を円周方向に1回転以上にわたって回転させながら、距離検出器により測定物1をレーザー7で走査して、その走査速度Vと走査時間T0 、T1 、T2 とにより、測定物1の外側の基準点Sから測定物1の表面の両エッジP1 、P2 までの距離L1 、L2 を求める。この測定値L1 、L2 に基づいて、外径値Dと基準点Sから中心Oまでの距離LO とを求める。測定物1の回転により連続的に得られる距離LO の測定値の最大値と最小値とから測定物1の曲りを求める。また、測定物1の回転に伴う円周方向の外径値の変化から測定物1の真円度を求める。
請求項（抜粋）：
円筒状測定物を軸方向の離れた2カ所で下方から円周方向に回転可能に支持するとともに、前記測定物の軸方向の1点或いは複数の位置でその測定物の外側に位置する基準点と、この基準点を通る直線と平行な2つの直線が前記測定物の表面に接する2つの測定点とを設定し、前記測定物を1回転以上にわたって円周方向の位置を変えながら、前記基準点から前記測定物表面の2つの測定点までの距離を、前記基準点から前記2つの接線に下ろした垂線の長さとして測定し、この測定値から前記測定物の曲りと外径と真円度を同時に求めることを特徴とする円筒状物体の曲りと外径と真円度の同時測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01B 11/26
, G01B 11/30 101
