特許

J-GLOBAL ID：200903074325869797

疵判別ロジック作成用データの収集及び精製方法

発明者： 香取 英夫
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-395945
公開番号（公開出願番号）：特開2002-195953
出願日： 2000年12月26日
公開日（公表日）： 2002年07月10日
要約：

【要約】【課題】 疵判定ロジック作成の期間を短縮することを課題とする。【解決手段】 プロパー材の疵データファイルから、有害疵のデータ候補を幾何学的特徴量および輝度特徴量の順でふるいわけることにより、自動的に収集し、必要な場合には調整員に収集した疵画像を見せて、ふさわしくない疵データを削除させることで、短期間に多くの有害疵データを収集する。

請求項（抜粋）：

通常の鋼板で発生する疵データに関するデータファイルから真の疵データと推定される目的とする種類の疵データを選別するにあたり、選択した疵データファイルを一度に読み込むステップと、選別に用いる幾何学的特徴量および輝度特徴量の種類とその特徴量の範囲を入力するステップと、読み込んだ当該疵データを幾何学的特徴量に基づいて選別するステップと、選別された当該データをさらに輝度特徴量に基づいて選別するステップとにより疵データを選別し、疵判別用ロジック作成に用いることを特徴とする疵判別ロジック作成用データの収集及び精製方法。

IPC (3件)：

G01N 21/892 ,  B21C 51/00 ,  G06T 1/00 300

FI (3件)：

G01N 21/892 B ,  B21C 51/00 P ,  G06T 1/00 300

Fターム (19件)：

2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051CA11 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC01 ,  2G051ED21 ,  2G051FA10 ,  5B057AA01 ,  5B057DA03 ,  5B057DA12 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC22