特許
J-GLOBAL ID:200903074334311340
分布を解析する方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
河宮 治
, 石野 正弘
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-553487
公開番号(公開出願番号):特表2005-513841
出願日: 2002年12月13日
公開日(公表日): 2005年05月12日
要約:
ランダム成分と確定的な成分とを有する測定可能な分布を解析するための方法、装置及び製品を提供する。本方法は、データを収集するステップと、複数の確定的関数と複数のランダム関数との畳み込みであるような確率密度関数を上記データに基づいて生成するステップと、少なくとも1つは未知である3つ以上のパラメータを有する確定的及びランダムな畳み込みモデルに基づいて確率密度関数を生成するステップと、逆畳み込み演算処理を用いることにより未知のパラメータを決定するステップとを含む。
請求項(抜粋):
ランダム成分と確定的成分とを有する測定可能な分布を解析する方法であって、
(a)データソースからデータを収集するステップと、
(b)複数の確定的関数と複数のランダム関数との畳み込みであり、分布を定義するような確率密度関数を上記データに基づいて生成するステップと、
(c)少なくとも1つのパラメータが未知である、3つ以上のパラメータを有し、かつ確定的モデルとランダムモデルとを有する畳み込みモデルに基づいて確率密度関数を生成するステップと、
(d)逆畳み込み演算処理を用いて未知のパラメータを決定するステップとを含む方法。
IPC (2件):
FI (2件):
H04L13/00 315
, G06F17/18 Z
Fターム (7件):
5B056BB64
, 5B056HH01
, 5K035AA03
, 5K035BB01
, 5K035DD01
, 5K035EE01
, 5K035MM01
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