特許
J-GLOBAL ID:200903074387633803
描画装置の動作評価方法および描画装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置、電子機器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
落合 稔
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-356756
公開番号(公開出願番号):特開2005-118672
出願日: 2003年10月16日
公開日(公表日): 2005年05月12日
要約:
【課題】 機能液滴吐出ヘッドの保守に当たり、吐出ノズルに吐出不良が生じた場合にその原因を特定できる描画装置の動作評価方法および描画装置等を提供することを課題とする。【解決手段】 機能液滴吐出ヘッドを駆動させることにより、ワークに機能液滴による描画を行う描画動作と、ヘッド保守手段を用い、機能液滴吐出ヘッドの保守を行う保守動作と、を行う描画装置の動作評価方法において、保守した後の機能液滴吐出ヘッドに所定のテストパターンを描画させる描画工程と、描画したテストパターンを画像認識する画像認識工程と、画像認識に基づいて、描画不良が生じているか否かを判断する描画不良判断工程と、描画不良と判断されたときに、画像認識に基づいて、描画不良の原因が、機能液滴吐出ヘッド自身および保守動作のいずれに起因するかを特定する不良特定工程と、を備えたことを特徴とする。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
ワークに対して、複数の吐出ノズルを整列させて形成した機能液滴吐出ヘッドを相対的に移動させながら、前記機能液滴吐出ヘッドを駆動させることにより、前記吐出ノズルから機能液滴を吐出させて、前記ワークに前記機能液滴による描画を行う描画動作と、ヘッド保守手段を用い、前記機能液滴吐出ヘッドの保守を行う保守動作と、を行う描画装置の動作評価方法において、
保守した後の前記機能液滴吐出ヘッドに所定のテストパターンを描画させる描画工程と、
前記描画工程で描画した前記テストパターンを画像認識する画像認識工程と、
前記画像認識に基づいて、描画不良が生じているか否かを判断する描画不良判断工程と、
前記描画不良と判断されたときに、前記画像認識に基づいて、前記描画不良の原因が、前記機能液滴吐出ヘッド自身および前記保守動作のいずれに起因するかを特定する不良特定工程と、を備えたことを特徴とする描画装置の動作評価方法。
IPC (4件):
B05D3/00
, B05C5/00
, B05D1/26
, B41J2/01
FI (4件):
B05D3/00 D
, B05C5/00 101
, B05D1/26 Z
, B41J3/04 101Z
Fターム (36件):
2C056EA14
, 2C056EB27
, 2C056EB40
, 2C056EC23
, 2C056EC24
, 2C056EC57
, 2C056FA10
, 2C056FA15
, 2C056FB01
, 2C056JA13
, 2C056JB04
, 2C056JC20
, 4D075AC06
, 4D075AC09
, 4D075AC88
, 4D075AC91
, 4D075AC93
, 4D075CA47
, 4D075CB07
, 4D075CB08
, 4D075DA04
, 4D075DA06
, 4D075DB13
, 4D075DB31
, 4D075DC19
, 4D075DC21
, 4D075DC24
, 4D075EA07
, 4F041AA02
, 4F041AA05
, 4F041AB01
, 4F041BA10
, 4F041BA13
, 4F041BA22
, 4F041BA38
, 4F041BA60
引用特許:
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