特許

J-GLOBAL ID：200903074418585144

クランプ回路およびこれを用いたICテスタ

発明者： 関 隆則 ,  熊木 保
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-151488
公開番号（公開出願番号）：特開平6-342033
出願日： 1993年05月28日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：

【要約】【目的】 不良のICを検査した場合でも劣化破損することのないクランプ回路およびこれを用いたICテスタを提供する。【構成】 入力端子3aがHighからLowに変化したときの反射波を低減するクランプ回路は、クランプ用ダイオードD1と、クランプ用ダイオードD1からLowレベルの入力端子3aに向かって流すことができる最大の電流値が設定された定電流源6と、電流吸収用ダイオードD3と、Lowレベルに設定されたクランプ用電圧源4とを備える。入力端子3aのLowからHighへの立ち上がり時の反射波を低減するクランプ回路は、クランプ用ダイオードD2と、Highレベルの入力端子3aからクランプ用ダイオードD2に向かって流すことができる最大の電流値が設定された定電流源7と、電流吸収用ダイオードD4と、Highレベルに設定されたクランプ用電圧源とを備える。

請求項（抜粋）：

入力端子(3a)のHighレベルからLowレベルへの立ち下がり時の反射波を低減する第1のクランプ手段と、入力端子(3a)のLowレベルからHighレベルへの立ち上がり時の反射波を低減する第2のクランプ手段とを備えたクランプ回路において、第1のクランプ手段は、入力端子(3a)にカソードが接続された第1のクランプ用ダイオード(D1)と、第1のクランプ用ダイオード(D1)からLowレベルの入力端子(3a)に向かって流すことができる最大の電流値が設定された第1の定電流源(6) と、第1の定電流源(6) とアノードが接続された第1の電流吸収用ダイオード(D3)と、第1の電流吸収用ダイオード(D3)のカソードに接続されたLowレベルに設定されたクランプ用電圧源(4) とを備え、第2のクランプ手段は、入力端子(3a)にアノードが接続された第2のクランプ用ダイオード(D2)と、Highレベルの入力端子(3a)から第2のクランプ用整流器(D2)に向かって流すことができる最大の電流値が設定された第2の定電流源(7) と、第2の定電流源(7) とカソードが接続された第2の電流吸収用ダイオード(D4)と、第2の電流吸収用ダイオード(D4)のアノードに接続されたHighレベルに設定されたクランプ用電圧源とを備えることを特徴とするクランプ回路。

IPC (3件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/66