特許

J-GLOBAL ID：200903074459712673

周波数特性測定方法および装置

発明者： 近藤 悟 ,  杉木 拓 ,  新福 吉秀
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 稲本 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-079872
公開番号（公開出願番号）：特開平9-270101
出願日： 1996年04月02日
公開日（公表日）： 1997年10月14日
要約：

【要約】【課題】 測定者が使用する条件と同一の条件で周波数特性を測定する。【解決手段】 M系列パルスジェネレータ1が発生した特性M系列の信号は、DATシステム41において、記録ヘッド63で磁気テープ71に記録される。そして、その磁気テープ71の再生を行い、その再生信号をAD変換器3に供給する。演算装置4のFFT演算器23,26は、AD変換器3でAD変換された再生信号のうちの特性M系列の信号に対応する部分を高速フーリエ変換し、その演算結果(FFTデータ)を演算回路24または演算回路27に出力する。移動平均フィルタ25は、演算回路24,27によってFFTデータより抽出された振幅特性または位相特性に関するデータをスムーシングした後、振幅特性信号および位相特性信号として出力する。

請求項（抜粋）：

データに所定の制御情報を付加した記録信号を記録媒体に記録する記録再生装置の周波数特性を測定する周波数測定方法において、特性M系列の信号を発生するステップと、前記データの領域に前記特性M系列の信号を挿入した前記記録信号を前記記録媒体に記録するステップと、前記記録信号が記録された前記記録媒体の再生を行うステップと、前記記録媒体を再生した信号から、前記記録媒体および前記記録再生装置の周波数特性を算出するステップとを備えることを特徴とする周波数特性測定方法。

IPC (3件)：

G11B 5/00 ,  G11B 20/00 ,  G11B 20/12 103

FI (3件)：

G11B 5/00 Z ,  G11B 20/00 Z ,  G11B 20/12 103