特許
J-GLOBAL ID：200903074464233210
光パルス試験器
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
澤井 敬史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-128852
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322698
出願日： 1992年05月21日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】コヒーレント検波方式を用いる光パルス試験器において、受信部の電気系の設計が容易な光パルス試験器を提供すること。【構成】試験信号光aを第1のAOスイッチ21でパルス化すると共に、正に例えば100MHz周波数シフトさせる。パルス化した試験信号光を第2のAOスイッチ22で負に100.1MHzシフトさせ、被試験光ファイバ5に入射する。反射光及び後方散乱波光cとローカル信号光bとを合波して得られるビート信号光dの光周波数は、負に0.1MHzシフトされる。ビート信号光dを受光器7で電気信号に変換し、処理後、後方散乱波形をCRT14に表示する。【効果】光レベルで低周波数化するので、動作帯域の低い増幅器で光パルス試験器を構成できる。
請求項（抜粋）：
試験信号光およびローカル信号光の発生手段と、該試験信号光を一定周期にパルス化して被試験光ファイバに繰り返して送出する手段と、前被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる反射光及び後方散乱光と前記ローカル信号光とを合波する手段と、合波した繰り返しビート信号光を検出して電気信号に変換する光検出手段と、繰り返し得られる電気信号を処理して前記被試験光ファイバからの反射光や後方散乱光の波形を表示する電気信号処理系と、繰り返し処理を行うためのタイミング発生手段と、前記試験信号光側およびローカル信号光側のどちらか一方もしくは両方に光周波数変調手段とを備えた光パルス試験器において、前記光周波数変調手段が光周波数シフト量の異なる複数の光変調器から成り、それぞれの光周波数シフトが正もしくは負であり、前記ビート信号光の光周波数の絶対値が個々の光変調器の光周波数シフト量の絶対値より小さいことを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2件)：
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