特許
J-GLOBAL ID：200903074479702488
円筒部品の内周面検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-125756
公開番号（公開出願番号）：特開平6-331555
出願日： 1993年05月27日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：
【要約】【目的】検査時間が短く、しかも装置構成が簡単な円筒部品の内周面検査装置を提供する。【構成】昇降台3は円筒部品6を円筒部品6の軸心に沿って昇降させ、これにより円筒部品6の内周面と撮像手段8との間の距離が調整されて焦点合わせがなされる。又は、撮像手段8を光軸に沿って変位させて上記合焦がなされる。円錐ミラー5は円筒部品6の内周面S全体をリング状の映像に変換して撮像手段8に入射し、判定手段9はこのリング状に変形された円筒部品6の内周面61を検査する。これにより、検査時間を大幅に短縮し、装置構成を簡略化することができる。
請求項（抜粋）：
基台と、円筒部品を載置する昇降台と、前記基台に支持されて前記昇降台を前記円筒部品の軸心に沿って移動させる昇降台移動手段と、前記昇降台に前記軸心に沿って立設されるとともに前記円筒部品の内周面からの反射光を前記軸心に沿って前記昇降台と反対側へ反射する円錐ミラーと、前記基台に支持されて前記反射光を受光する二次元撮像手段と、前記撮像手段から出力される二次元映像信号を処理して前記円筒部品の内周面の良不良を判定する判定手段と、を備えることを特徴とする円筒部品の内周面検査装置。
引用特許：
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