特許

J-GLOBAL ID：200903074515171060

光学式寸法測定装置

発明者： 古嶋 宏光 ,  桑島 守
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
代理人 (1件)： 伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-204653
公開番号（公開出願番号）：特開平7-043117
出願日： 1993年07月27日
公開日（公表日）： 1995年02月10日
要約：

【要約】【目的】 微小ノイズに起因する誤動作を確実に防止することを可能とした光学式寸法測定装置を提供する。【構成】 測定対象物4が配置される測定領域を平行走査レーザビーム5で走査するレーザビームスキャナ1と、測定領域の透過光ビームを受光する受光素子8と、この受光素子8の出力信号を所定の閾値で二値化信号に変換する二値化回路10と、二値化信号を処理して測定対象物4の寸法を求めるデータ処理回路11を有し、二値化回路10とデータ処理回路11の間には二値化信号のうち測定有効区間の信号のみを取り出すゲート回路25が設けられている。

請求項（抜粋）：

測定対象物が配置される所定の測定領域を光ビームで走査する光ビーム走査手段と、前記測定領域の透過光ビームを受光する受光手段と、この受光手段の出力信号を所定の閾値で二値化信号に変換する信号変換手段と、この信号変換手段により得られる二値化信号のうち測定有効区間のみを取り出すゲート手段と、このゲート手段により取り出された二値化信号を処理して前記測定対象物の寸法を求めるデータ処理手段と、を有することを特徴とする光学式寸法測定装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-252202
  
• 特開昭60-252202