特許
J-GLOBAL ID：200903074548115727
探査方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-017411
公開番号（公開出願番号）：特開平9-211121
出願日： 1996年02月02日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：
【要約】【課題】 不均質な媒質中においても、媒質中の物体の位置を少ない処理時間で精度良く探査できる探査方法及び探査装置を提供する。【解決手段】 媒質1の表面を移動しながら、電磁波または音波による波動信号4を前記媒質中へ放射し、前記媒質中に存在する物体2からの反射信号5を受信し、前記受信信号を前記媒質表面上の移動距離xと前記波動信号の前記物体からの反射時間tを座標(x,t)とする2次元画像データを生成し、前記2次元画像データに対して、予め想定された複数の伝搬速度vをパラメータとして前記各伝搬速度v毎に合成開口処理を行い、前記合成開口処理を施された複数の2次元画像データより、前記物体の存在を移動距離x・反射時間t座標面内で抽出し、抽出された物体毎に独立して前記伝搬速度を抽出し、前記抽出された伝搬速度より前記物体の深度を算出するように構成してある。
請求項（抜粋）：
媒質(1)の表面を移動しながら、電磁波または音波による波動信号を前記媒質(1)中へ放射し、前記媒質(1)中に存在する物体(2)からの反射信号を受信する第1ステップと、前記受信信号に基づいて前記媒質表面上の移動距離xと前記波動信号の前記物体(2)からの反射時間tを座標(x,t)とする2次元画像データを生成する第2ステップと、前記2次元画像データに対して、予め想定された複数の伝搬速度vをパラメータとして前記各伝搬速度v毎に合成開口処理を行う第3ステップと、前記合成開口処理を施された複数の2次元画像データより前記媒質(1)の伝搬速度を抽出する第4ステップと、前記第4ステップで抽出された伝搬速度より前記物体(2)の深度を算出する第5ステップとを順次実行し、前記媒質中に存在する物体の位置を探査する探査方法であって、前記第4ステップにおいて、前記物体(2)の存在を移動距離x・反射時間t座標面内で抽出し、抽出された物体毎に独立して前記伝搬速度の抽出を行うことを特徴とする探査方法。
IPC (6件)：
G01S 13/88
, G01N 29/18
, G01S 13/90
, G01S 15/04
, G01S 15/89
, G01V 3/12
G01S 13/88 G
, G01N 29/18
, G01S 15/04
, G01V 3/12 B
, G01S 13/90
, G01S 15/89 Z
