特許

J-GLOBAL ID：200903074558277890

デジタル回路検査装置および方法

発明者： 瀬古 茂幸
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 稲本 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-026468
公開番号（公開出願番号）：特開平9-218248
出願日： 1996年02月14日
公開日（公表日）： 1997年08月19日
要約：

【要約】【課題】 デジタル回路の検査を簡単な方法で行う。【解決手段】 IC11-1とIC11-2の接続経路61-1を検査する場合、調整/検査機5は、IIC(Inter-IC)バス4を利用して、IC11-1にテスト用データを供給し、IC11-1の端子21-1乃至21-5に、テスト用データを設定させる。次に、調整/検査機5は、IC11-2の端子21-16乃至21-20の値を読み取らせ、読み取った値をIICバス4を介して受け取る。そして、調整/検査機5は、受け取った値を、接続経路61-1が正常な場合における値と比較する。このような動作を複数回行い、調整/検査機5は、すべての動作において、それらの値が一致した場合、この接続経路61-1は正常であると判断する。

請求項（抜粋）：

デジタル回路における所定の箇所の論理値を設定する設定手段と、前記デジタル回路における所定の箇所の論理値を読み取る読取手段と、前記設定手段に、それぞれ直接、前記論理値を供給するとともに、前記読取手段から、それぞれ直接、読み取った論理値を受け取るデータ授受手段と、前記デジタル回路が正常であるときの、前記設定手段により設定される論理値と、前記読取手段が読み取る論理値との対応関係と、前記設定手段により設定された論理値と、前記読取手段が読み取った論理値との対応関係を比較する比較手段とを備えることを特徴とするデジタル回路検査装置。

FI (3件)：

G01R 31/28 D ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 G